Microscopia de força atómica (AFM)
Microscopia de força atómica (AFM) é uma técnica para analisar a superfície de um material rígido até ao nível do átomo . AFM usa uma sonda mecânica para ampliar as características da superfície até 100.000.000 vezes, e produz imagens 3D da superfície. A técnica é derivada de uma tecnologia relacionada, chamada microscopia de varredura em … Ler mais